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更新日期：2025-03-05
產(chǎn)品型號：APC 610
產(chǎn)品描述： 本儀器基于顆粒消光原理，采用獨(dú)創(chuàng)的光學(xué)空間低通濾波硬件技術(shù)，結(jié)合衍射修正算法專利，能準(zhǔn)確測量微米級氣載顆粒的粒度分布和個數(shù)，覆蓋了當(dāng)前儀器市場上未能監(jiān)控大顆粒的痛點(diǎn)。
目前已有的光阻法顆粒計(jì)數(shù)器已經(jīng)廣泛應(yīng)用于無塵室的空氣中顆粒（氣載顆粒）監(jiān)控, 但是由于光路原理和采樣算法等局限設(shè)計(jì), 現(xiàn)有的光阻法儀器無法對空氣中的大顆粒進(jìn)行較為準(zhǔn)確的采樣以及測量。
本儀器基于顆粒消光原理，采用獨(dú)創(chuàng)的光學(xué)空間低通濾波硬件技術(shù)，結(jié)合衍射修正算法專利，能準(zhǔn)確測量微米級氣載顆粒的粒度分布和個數(shù)，覆蓋了當(dāng)前儀器市場上未能監(jiān)控大顆粒的痛點(diǎn)。
APC 610氣載顆粒計(jì)數(shù)器vs傳統(tǒng)光阻法顆粒計(jì)數(shù)器
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真理光學(xué)APC 610 氣載顆粒計(jì)數(shù)器
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傳統(tǒng)光阻法顆粒測試 |
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能夠測量顆粒的真實(shí)幾何粒徑 |
只能測量顆粒的等效消光粒徑 |
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測量準(zhǔn)確性不受顆粒的折射率和吸收系數(shù)影響,無論什么材料組成的顆粒，都能得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果 |
受顆粒材料的折射率和吸收系數(shù)影響, 比如較低吸收系數(shù)的顆粒, 測量結(jié)果會偏小；反之，測量結(jié)果會偏大 |
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測量準(zhǔn)確性高，粒徑測量的理論誤差不超過1% |
準(zhǔn)確性無保證 |
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能提供詳盡的粒度分布數(shù)據(jù) |
只能提供粗略的粒度分段數(shù)據(jù) |
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測量單元與驅(qū)動單元分離，并與采樣斗直接相連設(shè)計(jì)（專利技術(shù)），測量單元可放置到狹小空間測量，避免了管道污染對測量準(zhǔn)確性的影響 |
只能把采樣斗放置到測量空間，管道內(nèi)的顆粒沉積與污染直接影響測量結(jié)果的準(zhǔn)確性 |
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測量單元內(nèi)測量室和采樣斗可拆卸(專利技術(shù))，便于清潔和更換；而管道的污染對測量無影響 |
測量室清潔困難，管道難以徹底清洗 |
